BOOKS - EQUIPMENT - Измерение параметров цифровых интегральных микросхем...
Измерение параметров цифровых интегральных микросхем -  1982 DJVU | PDF М, Радио и связь BOOKS EQUIPMENT
ECO~15 kg CO²

1 TON

Views
91510

Telegram
 
Измерение параметров цифровых интегральных микросхем
Year: 1982
Pages: 368
Format: DJVU | PDF
File size: 12 MB



Pay with Telegram STARS
The book "Измерение параметров цифровых интегральных микросхем" (Measurement of Parameters of Digital Integrated Circuits) is a comprehensive guide for understanding the process of technology evolution and its impact on human society. The author, a professional and competent writer, highlights the need to study and understand the technological advancements in the field of digital integrated circuits (ICs) and their significance in shaping the future of humanity. The book provides an in-depth analysis of various classes of digital ICs and their characteristics, along with methods for measuring and controlling their parameters. The author emphasizes the importance of developing a personal paradigm for perceiving the technological process of developing modern knowledge, which is essential for the survival of humanity in the rapidly changing world. This paradigm should be based on the principles of unity, diversity, and interconnectedness, and should recognize the value of all cultures, traditions, and beliefs. The book also stresses the need for unification among people, especially in times of war and conflict, as it is only through collective efforts that we can overcome the challenges facing our planet. The book is divided into several chapters, each focusing on a specific aspect of digital IC measurement and control. The first chapter provides an overview of the history of technology evolution and its impact on human society, highlighting the key milestones and breakthroughs that have led to the development of modern digital ICs. The second chapter delves into the various classes of digital ICs, including their characteristics, functions, and applications. The third chapter discusses the methods of measuring static and dynamic parameters of digital ICs, including functional control of these parameters and the principles of construction of measuring and control instruments.
книга «Измерение параметров цифровых интегральных микросхем» (Измерение Параметров Цифровых Интегральных схем) является подробным руководством для понимания процесса технологической эволюции и ее воздействия на человеческое общество. Автор, профессиональный и компетентный писатель, подчеркивает необходимость изучения и понимания технологических достижений в области цифровых интегральных схем (ИС) и их значения в формировании будущего человечества. В книге представлен глубокий анализ различных классов цифровых ИС и их характеристик, наряду с методами измерения и контроля их параметров. Автор подчеркивает важность выработки личностной парадигмы восприятия технологического процесса развития современного знания, необходимого для выживания человечества в быстро меняющемся мире. Эта парадигма должна основываться на принципах единства, разнообразия и взаимосвязанности и должна признавать ценность всех культур, традиций и верований. В книге также подчеркивается необходимость объединения людей, особенно во времена войн и конфликтов, поскольку только коллективными усилиями мы можем преодолеть вызовы, стоящие перед нашей планетой. Книга разделена на несколько глав, каждая из которых посвящена конкретному аспекту измерения и контроля цифровых ИС. В первой главе дается обзор истории эволюции технологий и ее влияния на человеческое общество, освещаются ключевые вехи и прорывы, которые привели к развитию современных цифровых ИС. Во второй главе рассматриваются различные классы цифровых ИС, включая их характеристики, функции и приложения. В третьей главе рассматриваются методы измерения статических и динамических параметров цифровых АСУ ТП, включая функциональный контроль этих параметров и принципы построения средств измерений и контроля.
livre Mesure des paramètres des circuits intégrés numériques est un guide détaillé pour comprendre le processus d'évolution technologique et son impact sur la société humaine. L'auteur, auteur professionnel et compétent, souligne la nécessité d'étudier et de comprendre les progrès technologiques dans le domaine des circuits intégrés numériques et leur importance dans la formation de l'avenir de l'humanité. livre présente une analyse approfondie des différentes classes de propriété intellectuelle numériques et de leurs caractéristiques, ainsi que des méthodes de mesure et de contrôle de leurs paramètres. L'auteur souligne l'importance d'élaborer un paradigme personnel pour percevoir le processus technologique de développement des connaissances modernes nécessaires à la survie de l'humanité dans un monde en mutation rapide. Ce paradigme doit être fondé sur les principes d'unité, de diversité et d'interconnexion et reconnaître la valeur de toutes les cultures, traditions et croyances. livre souligne également la nécessité d'unir les hommes, en particulier en temps de guerre et de conflit, car ce n'est que par un effort collectif que nous pourrons relever les défis auxquels notre planète est confrontée. livre est divisé en plusieurs chapitres, chacun traitant d'un aspect particulier de la mesure et du contrôle de la propriété intellectuelle numérique. premier chapitre donne un aperçu de l'histoire de l'évolution de la technologie et de son impact sur la société humaine, et met en lumière les étapes clés et les percées qui ont conduit au développement de la propriété intellectuelle numérique moderne. deuxième chapitre traite des différentes classes de propriété intellectuelle numériques, y compris leurs caractéristiques, leurs fonctions et leurs applications. troisième chapitre traite des méthodes de mesure des paramètres statiques et dynamiques des systèmes de commande automatique numériques, y compris le contrôle fonctionnel de ces paramètres et les principes de construction des moyens de mesure et de contrôle.
libro | «Medición de los parámetros de los chips integrados digitales» (Medición de los parámetros de los circuitos integrados digitales) es una guía detallada para comprender el proceso de evolución tecnológica y su impacto en la sociedad humana. autor, escritor profesional y competente, destaca la necesidad de estudiar y comprender los avances tecnológicos en el campo de los circuitos integrados digitales (PI) y su importancia en la formación del futuro de la humanidad. libro presenta un análisis profundo de las diferentes clases de PI digital y sus características, junto con métodos para medir y controlar sus parámetros. autor destaca la importancia de generar un paradigma personal para percibir el proceso tecnológico de desarrollo del conocimiento moderno, necesario para la supervivencia de la humanidad en un mundo que cambia rápidamente. Este paradigma debe basarse en los principios de unidad, diversidad e interconexión y reconocer el valor de todas las culturas, tradiciones y creencias. libro también destaca la necesidad de unir a las personas, especialmente en tiempos de guerras y conflictos, ya que sólo con esfuerzos colectivos podemos superar los desafíos que enfrenta nuestro planeta. libro se divide en varios capítulos, cada uno dedicado a un aspecto específico de la medición y control de la PI digital. primer capítulo ofrece una visión general de la historia de la evolución de la tecnología y su impacto en la sociedad humana, destaca los hitos y avances clave que han llevado al desarrollo de la PI digital moderna. En el segundo capítulo se examinan las diferentes clases de PI digital, incluidas sus características, funciones y aplicaciones. En el tercer capítulo se examinan los métodos para medir los parámetros estáticos y dinámicos de las ACS TP digitales, incluido el control funcional de estos parámetros y los principios de construcción de medios de medición y control.
O livro «Medição dos parâmetros dos chips integrais digitais» (Medição dos parâmetros dos Circuitos Integrados Digitais) é um guia detalhado para compreender a evolução tecnológica e seus efeitos na sociedade humana. O autor, um escritor profissional e competente, ressalta a necessidade de explorar e compreender os avanços tecnológicos nos circuitos integrais digitais (PI) e sua importância na formação do futuro da humanidade. O livro apresenta uma análise profunda das diferentes classes de PI digitais e suas características, juntamente com técnicas de medição e controle de seus parâmetros. O autor ressalta a importância de criar um paradigma pessoal para a percepção do processo tecnológico de desenvolvimento do conhecimento moderno, essencial para a sobrevivência da humanidade num mundo em rápida mudança. Este paradigma deve ser baseado nos princípios da unidade, da diversidade e da interconexão, e deve reconhecer o valor de todas as culturas, tradições e crenças. O livro também enfatiza a necessidade de unir as pessoas, especialmente em tempos de guerras e conflitos, porque só com esforços coletivos podemos superar os desafios que o nosso planeta enfrenta. O livro é dividido em vários capítulos, cada um sobre um aspecto específico da medição e controle da PI digital. O primeiro capítulo traz uma visão geral da evolução da tecnologia e do seu impacto na sociedade humana, destacando os eixos e avanços que levaram ao desenvolvimento da VI digital moderna. O segundo capítulo aborda diferentes classes de PI digitais, incluindo suas características, funções e aplicativos. O terceiro capítulo aborda as técnicas de medição de parâmetros estáticos e dinâmicos de TPA digital, incluindo o controle funcional desses parâmetros e os princípios de medição e controle.
La misurazione delle impostazioni dei chip integrali digitali è una guida dettagliata per comprendere l'evoluzione tecnologica e i suoi effetti sulla società umana. L'autore, uno scrittore professionista e competente, sottolinea la necessità di studiare e comprendere i progressi tecnologici nei circuiti integrali digitali e il loro significato nella formazione del futuro dell'umanità. Il libro fornisce un'analisi approfondita delle diverse classi di proprietà intellettuale digitale e delle loro caratteristiche, insieme ai metodi di misurazione e controllo dei loro parametri. L'autore sottolinea l'importanza di sviluppare un paradigma personale per la percezione del processo tecnologico di sviluppo della conoscenza moderna necessaria per la sopravvivenza dell'umanità in un mondo in rapida evoluzione. Questo paradigma deve basarsi sui principi di unità, diversità e interconnessione e deve riconoscere il valore di tutte le culture, tradizioni e credenze. Il libro sottolinea anche la necessità di unire le persone, soprattutto in tempi di guerre e conflitti, perché solo con uno sforzo collettivo possiamo superare le sfide che il nostro pianeta deve affrontare. Il libro è suddiviso in diversi capitoli, ciascuno dei quali riguarda un aspetto specifico della misurazione e del controllo delle proprietà intellettuali digitali. Il primo capitolo fornisce una panoramica della storia dell'evoluzione della tecnologia e del suo impatto sulla società umana, evidenziando le principali fasi cardine e le innovazioni che hanno portato allo sviluppo delle attuali proprietà intellettuale digitali. Il secondo capitolo comprende diverse classi di proprietà intellettuale digitale, incluse le loro caratteristiche, funzioni e applicazioni. Nel terzo capitolo vengono descritti i metodi per misurare i parametri statici e dinamici delle RPC digitali, inclusi il controllo funzionale di tali parametri e i principi per la creazione di strumenti di misurazione e controllo.
Das Buch „Messung der Parameter digitaler integrierter Schaltkreise“ (Messung der Parameter digitaler integrierter Schaltkreise) ist ein detaillierter itfaden zum Verständnis des technologischen Evolutionsprozesses und seiner Auswirkungen auf die menschliche Gesellschaft. Der Autor, ein professioneller und kompetenter Schriftsteller, betont die Notwendigkeit, die technologischen Fortschritte auf dem Gebiet der digitalen integrierten Schaltungen (ICs) und ihre Bedeutung bei der Gestaltung der Zukunft der Menschheit zu untersuchen und zu verstehen. Das Buch bietet eine eingehende Analyse verschiedener Klassen digitaler ICs und ihrer Eigenschaften sowie Methoden zur Messung und Steuerung ihrer Parameter. Der Autor betont die Bedeutung der Entwicklung eines persönlichen Paradigmas der Wahrnehmung des technologischen Prozesses der Entwicklung des modernen Wissens, das für das Überleben der Menschheit in einer sich schnell verändernden Welt notwendig ist. Dieses Paradigma muss auf den Prinzipien der Einheit, Vielfalt und Vernetzung basieren und den Wert aller Kulturen, Traditionen und Überzeugungen anerkennen. Das Buch betont auch die Notwendigkeit, Menschen zusammenzubringen, insbesondere in Zeiten von Kriegen und Konflikten, denn nur durch kollektive Anstrengungen können wir die Herausforderungen unseres Planeten bewältigen. Das Buch ist in mehrere Kapitel unterteilt, die sich jeweils einem bestimmten Aspekt der Messung und Steuerung digitaler ICs widmen. Das erste Kapitel gibt einen Überblick über die Geschichte der technologischen Entwicklung und ihre Auswirkungen auf die menschliche Gesellschaft und beleuchtet die wichtigsten Meilensteine und Durchbrüche, die zur Entwicklung moderner digitaler ICs geführt haben. Das zweite Kapitel befasst sich mit den verschiedenen Klassen digitaler ICs, einschließlich ihrer Eigenschaften, Funktionen und Anwendungen. Das dritte Kapitel befasst sich mit Methoden zur Messung statischer und dynamischer Parameter digitaler ACS TP, einschließlich der Funktionskontrolle dieser Parameter und den Prinzipien des Aufbaus von Mess- und Steuergeräten.
''
Measuring Digital Integrated Circuits (Dijital Entegre Devrelerin Ölçülmesi) kitabı, teknolojik evrim sürecini ve insan toplumu üzerindeki etkisini anlamak için ayrıntılı bir kılavuzdur. Profesyonel ve yetkin bir yazar olan yazar, dijital entegre devreler (IC'ler) alanındaki teknolojik gelişmeleri ve insanlığın geleceğini şekillendirmedeki önemini inceleme ve anlama ihtiyacını vurgulamaktadır. Kitap, çeşitli dijital IC sınıflarının ve özelliklerinin derinlemesine bir analizini ve parametrelerini ölçme ve izleme yöntemlerini sunmaktadır. Yazar, hızla değişen bir dünyada insanlığın hayatta kalması için gerekli olan modern bilginin teknolojik gelişim sürecinin algılanması için kişisel bir paradigma geliştirmenin önemini vurgulamaktadır. Bu paradigma, birlik, çeşitlilik ve birbirine bağlılık ilkelerine dayanmalı ve tüm kültürlerin, geleneklerin ve inançların değerini tanımalıdır. Kitap ayrıca, özellikle savaş ve çatışma zamanlarında insanları birleştirme ihtiyacını vurgulamaktadır, çünkü yalnızca kolektif çabalarla gezegenimizin karşılaştığı zorlukların üstesinden gelebiliriz. Kitap, her biri dijital IC'lerin ölçülmesi ve kontrol edilmesinin belirli bir yönüne ayrılmış birkaç bölüme ayrılmıştır. İlk bölüm, teknolojinin evriminin tarihine ve insan toplumu üzerindeki etkisine genel bir bakış sunar, modern dijital IP'nin gelişmesine yol açan önemli kilometre taşlarını ve atılımlarını vurgular. İkinci bölüm, özellikleri, işlevleri ve uygulamaları dahil olmak üzere çeşitli dijital IC sınıflarını tartışmaktadır. Üçüncü bölüm, dijital APCS'nin statik ve dinamik parametrelerini ölçme yöntemlerini, bu parametrelerin fonksiyonel kontrolünü ve ölçüm ve kontrol cihazlarının yapım prensiplerini açıklar.
كتاب قياس الدوائر الرقمية المتكاملة (قياس الدوائر الرقمية المتكاملة) هو دليل مفصل لفهم عملية التطور التكنولوجي وتأثيره على المجتمع البشري. يؤكد المؤلف، وهو كاتب محترف وكفء، على الحاجة إلى دراسة وفهم التطورات التكنولوجية في مجال الدوائر الرقمية المتكاملة وأهميتها في تشكيل مستقبل البشرية. يقدم الكتاب تحليلاً متعمقًا لمختلف فئات ICs الرقمية وخصائصها، إلى جانب طرق قياس ورصد بارامتراتها. ويشدد المؤلف على أهمية وضع نموذج شخصي لتصور العملية التكنولوجية لتطوير المعرفة الحديثة، وهو أمر ضروري لبقاء البشرية في عالم سريع التغير. وينبغي أن يستند هذا النموذج إلى مبادئ الوحدة والتنوع والترابط وأن يعترف بقيمة جميع الثقافات والتقاليد والمعتقدات. كما يؤكد الكتاب على الحاجة إلى توحيد الناس، خاصة في أوقات الحرب والصراع، لأنه من خلال الجهود الجماعية فقط يمكننا التغلب على التحديات التي تواجه كوكبنا. ينقسم الكتاب إلى عدة فصول، كل منها مخصص لجانب معين من قياس وتحكم ICs الرقمية. يقدم الفصل الأول لمحة عامة عن تاريخ تطور التكنولوجيا وتأثيرها على المجتمع البشري، ويسلط الضوء على المعالم الرئيسية والاختراقات التي أدت إلى تطوير الملكية الفكرية الرقمية الحديثة. يناقش الفصل الثاني مختلف فئات المعلومات الرقمية، بما في ذلك خصائصها ووظائفها وتطبيقاتها. ويصف الفصل الثالث أساليب قياس البارامترات الثابتة والدينامية للبارامترات الرقمية للبارامترات، بما في ذلك التحكم الوظيفي لهذه البارامترات ومبادئ بناء أدوات القياس والتحكم.

You may also be interested in:

Измерение параметров цифровых интегральных микросхем
Измерение динамических параметров интегральных схем
Измерение параметров интегральных ЦАП и АЦП
Проектирование интегральных микросхем
Технология интегральных микросхем
Технология интегральных микросхем
Технология и конструирование интегральных микросхем
Качество и надежность интегральных микросхем
Применение интегральных микросхем памяти
Основы конструирования интегральных микросхем
Технология и конструирование интегральных микросхем
Технологии многоуровневой металлизации интегральных микросхем
Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Применение аналоговых интегральных микросхем в вычислительных устройствах
Технология производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов
Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов
Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов
Микропроцессоры и микропроцессорные комплекты интегральных микросхем. Справочник в 2-х томах
Измерение параметров речи
Технология, конструкции и методы моделирования кремниевых интегральных микросхем. В 2-х частях
Технология, конструкции и методы моделирования кремниевых интегральных микросхем в 2 ч., часть 1
Технология, конструкции и методы моделирования кремниевых интегральных микросхем. В 2-х частях
Применение цифровых микросхем серии ТТЛ и КМОП
Измерение параметров оптических покрытий
Измерение параметров приемников оптического излучения
Генерирование случайных сигналов и измерение их параметров
Измерение параметров антенно-фидерных устройств
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур
Методы и возможности in-line контроля тонкопленочных материалов в производстве субмикронных интегральных микросхем
Методы и возможности in-line контроля тонкопленочных материалов в производстве субмикронных интегральных микросхем
Измерение параметров приборов оптоэлектроники. Измерения в электронике
Проектирование импульсных и цифровых устройств на интегральных логических схемах
Проектирование цифровых систем на основе программируемых логических интегральных схем
Измерение параметров электронных приборов дециметрового и сантиметрового диапазонов волн
Измерение параметров электронных приборов дециметрового и сантиметрового диапазонов волн
Измерение энергетических параметров и характеристик лазерного излучения. Измерения в электронике
Измерение энергетических параметров и характеристик лазерного излучения. Измерения в электронике
Измерение параметров и испытание полупроводниковых приборов Учебник для техн. училищ.— 3-е изд., перераб. и доп.
Техническая диагностика современных цифровых сетей связи. Основные принципы и технические средства измерений параметров передачи для сетей PDH, SDH, IP, Ethernet и ATM