
BOOKS - NATURAL SCIENCES - Основы электронной оптики (в 2-х томах)...

Основы электронной оптики (в 2-х томах)
Author: Хокс П., Каспер Э.
Year: 1993
Format: DJVU
File size: 12 MB
Language: RU

Year: 1993
Format: DJVU
File size: 12 MB
Language: RU

The book is written by experts in the field of electron microscopy and provides a comprehensive overview of the current state of the art in this area. The book "Основы электронной оптики в 2х томах" is a comprehensive guide to the principles and applications of electron microscopy, covering the latest developments in the field and providing a detailed overview of the current state of the art. This book is essential reading for anyone interested in understanding the technology and its potential impact on society. The first volume of the book focuses on the fundamental principles of electron microscopy, including the physics of electron beams and their interaction with matter, as well as the various techniques used to image materials at the nanoscale. It covers topics such as transmission electron microscopy (TEM), scanning electron microscopy (SEM), and atomic force microscopy (AFM), and provides an in-depth look at the techniques and instruments used in these areas.
Книга написана экспертами в области электронной микроскопии и содержит всесторонний обзор современного состояния техники в этой области. Книга «Основы электронной оптики в 2х томах» является подробным руководством по принципам и применениям электронной микроскопии, касаясь последних достижений в области и предоставляя подробный обзор текущего уровня техники. Эта книга - существенное чтение для любого заинтересованного пониманием технологии и ее потенциального воздействия на общество. Первый том книги посвящен фундаментальным принципам электронной микроскопии, в том числе физике электронных пучков и их взаимодействию с веществом, а также различным техникам, используемым для изображения материалов на наноуровне. Он охватывает такие темы, как просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ), сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) и атомно-силовая микроскопия (АСМ), и дает глубокий взгляд на методы и инструменты, используемые в этих областях.
Il libro è scritto da esperti di microscopia elettronica e fornisce una panoramica completa dello stato attuale della tecnologia in questo campo. Il libro «Basi dell'ottica elettronica in 2 volumi» fornisce una guida dettagliata ai principi e alle applicazioni della microscopia elettronica, che descrive i progressi più recenti e fornisce una panoramica dettagliata del livello attuale della tecnologia. Questo libro è una lettura sostanziale per ogni persona interessata a comprendere la tecnologia e il suo potenziale impatto sulla società. Il primo volume è incentrato sui principi fondamentali della microscopia elettronica, tra cui la fisica dei fasci elettronici e la loro interazione con la sostanza, e sulle varie tecniche utilizzate per l'immagine dei materiali in nanovalorizzazione. occupa di temi come la microscopia elettronica di luce (PEM), la microscopia elettronica di scansione (SAM) e la microscopia atomica (ASM), e fornisce una visione approfondita dei metodi e degli strumenti utilizzati in queste aree.
''
