
BOOKS - TECHNICAL SCIENCES - Методы исследования полупроводников...

Методы исследования полупроводников
Author: Воробьев Ю.В., Добровольский В.Н., Стриха В.И.
Year: 1988
Pages: 233
Format: PDF
File size: 11,4 MB
Language: RU

Year: 1988
Pages: 233
Format: PDF
File size: 11,4 MB
Language: RU

The book "Methods of Researching Semiconductors" by (author name) is a comprehensive guide to understanding the fundamental principles of semiconductor materials and their properties. The book provides a detailed overview of the various methods used to determine the key parameters that affect the performance of semiconductor devices, such as resistivity, mobility, thermal conductivity, and recombination rate. These parameters are essential for optimizing the design and development of semiconductor-based devices, including transistors, diodes, and solar cells. The book begins with an introduction to the basic concepts of semiconductor technology and the importance of understanding the underlying physics of these materials. The author emphasizes the need to study and understand the process of technological evolution and its impact on modern knowledge, highlighting the significance of developing a personal paradigm for perceiving the technological process as the basis for human survival and unity in a world of rapid change. The first chapter delves into the details of resistivity measurement techniques, including four-point probe, Hall effect, and van der Pauw methods. The author explains how to choose the appropriate method based on the material's properties and the desired level of accuracy. The chapter also covers the theory behind each technique and provides practical examples of how to perform the measurements.
Книга «Методы исследования полупроводников» (имя автора) является всеобъемлющим руководством по пониманию фундаментальных принципов полупроводниковых материалов и их свойств. В книге представлен подробный обзор различных методов, используемых для определения ключевых параметров, влияющих на рабочие характеристики полупроводниковых приборов, таких как удельное сопротивление, подвижность, теплопроводность и скорость рекомбинации. Эти параметры необходимы для оптимизации проектирования и разработки устройств на полупроводниковой основе, включая транзисторы, диоды и солнечные элементы. Книга начинается с введения в основные понятия полупроводниковой техники и важности понимания лежащей в основе физики этих материалов. Автор подчеркивает необходимость изучения и понимания процесса технологической эволюции и его влияния на современные знания, подчеркивая значимость выработки личностной парадигмы восприятия технологического процесса как основы выживания и единства человека в мире быстрых изменений. В первой главе подробно рассматриваются методы измерения удельного сопротивления, включая четырехточечный зонд, эффект Холла и методы ван дер Пау. Автор объясняет, как выбрать подходящий метод, исходя из свойств материала и желаемого уровня точности. В главе также рассматривается теория, лежащая в основе каждой техники, и приводятся практические примеры того, как проводить измерения.
livre « Méthodes de recherche sur les semi-conducteurs » (nom de l'auteur) est un guide complet pour comprendre les principes fondamentaux des matériaux semi-conducteurs et leurs propriétés. livre donne un aperçu détaillé des différentes méthodes utilisées pour déterminer les paramètres clés qui influent sur les performances des dispositifs semi-conducteurs, tels que la résistivité, la mobilité, la conductivité thermique et la vitesse de recombinaison. Ces paramètres sont nécessaires pour optimiser la conception et le développement des dispositifs semi-conducteurs, y compris les transistors, les diodes et les cellules solaires. livre commence par une introduction aux concepts de base de la technique des semi-conducteurs et l'importance de comprendre la physique sous-jacente de ces matériaux. L'auteur souligne la nécessité d'étudier et de comprendre le processus d'évolution technologique et son impact sur les connaissances modernes, en soulignant l'importance de créer un paradigme personnel de la perception du processus technologique comme base de la survie et de l'unité de l'homme dans un monde de changements rapides. premier chapitre traite en détail des méthodes de mesure de la résistivité, y compris la sonde à quatre points, l'effet Hall et les méthodes de van der Pau. L'auteur explique comment choisir la méthode appropriée en fonction des propriétés du matériau et du niveau de précision souhaité. chapitre traite également de la théorie qui sous-tend chaque technique et donne des exemples pratiques de la façon d'effectuer des mesures.
libro «Métodos de investigación de semiconductores» (nombre del autor) es una guía integral para comprender los principios fundamentales de los materiales semiconductores y sus propiedades. libro ofrece una visión general detallada de los diferentes métodos utilizados para determinar los parámetros clave que afectan el rendimiento de los dispositivos semiconductores, como la resistividad, la movilidad, la conductividad térmica y la tasa de recombinación. Estos parámetros son necesarios para optimizar el diseño y desarrollo de dispositivos sobre una base semiconductora, incluyendo transistores, diodos y células solares. libro comienza con una introducción a los conceptos básicos de la técnica de semiconductores y la importancia de entender la física subyacente de estos materiales. autor subraya la necesidad de estudiar y comprender el proceso de evolución tecnológica y su influencia en el conocimiento contemporáneo, destacando la importancia de la elaboración de un paradigma personal de percepción del proceso tecnológico como base de la supervivencia y unidad del ser humano en un mundo de cambio rápido. primer capítulo examina en detalle los métodos de medición de la resistividad, incluyendo la sonda de cuatro puntos, el efecto Hall y los métodos van der Pau. autor explica cómo elegir un método adecuado basado en las propiedades del material y el nivel de precisión deseado. capítulo también examina la teoría subyacente a cada técnica y proporciona ejemplos prácticos de cómo realizar las mediciones.
O livro «Técnicas de pesquisa de semicondutores» (nome do autor) é uma guia abrangente para compreender os princípios fundamentais dos materiais semicondutores e suas propriedades. O livro apresenta uma visão detalhada dos diferentes métodos utilizados para determinar os parâmetros essenciais que afetam as características de funcionamento dos aparelhos semicondutores, tais como resistência, mobilidade, condutividade térmica e velocidade de recombinação. Estes parâmetros são necessários para otimizar o design e desenvolvimento de dispositivos com base em semicondutores, incluindo transistores, diodos e elementos solares. O livro começa com a introdução nos conceitos básicos da técnica semicondutora e a importância da compreensão da física subjacente desses materiais. O autor ressalta a necessidade de estudar e compreender o processo de evolução tecnológica e seus efeitos sobre o conhecimento moderno, enfatizando a importância de estabelecer um paradigma pessoal para a percepção do processo tecnológico como base para a sobrevivência e unidade humana em um mundo de mudanças rápidas. O primeiro capítulo aborda os métodos de medição da resistência específica, incluindo a sonda de quatro pontos, o efeito Hall e os métodos de van der Pau. O autor explica como escolher o método adequado com base nas propriedades do material e no nível de precisão desejado. O capítulo também aborda a teoria subjacente a cada técnica e dá exemplos práticos de como fazer as medições.
Il libro «Metodi di ricerca sui semiconduttori» (nome dell'autore) è una guida completa alla comprensione dei principi fondamentali dei materiali semiconduttori e delle loro proprietà. Il libro fornisce una panoramica dettagliata dei vari metodi utilizzati per determinare i parametri chiave che influenzano le caratteristiche operative degli apparecchi semiconduttori, quali resistenza specifica, mobilità, conducibilità termica e velocità di ricombinazione. Questi parametri sono necessari per ottimizzare la progettazione e lo sviluppo dei dispositivi su base semiconduttore, inclusi transistor, diodi e elementi solari. Il libro inizia con l'introduzione nei concetti di base della tecnica semiconduttore e l'importanza di comprendere la fisica sottostante di questi materiali. L'autore sottolinea la necessità di studiare e comprendere il processo di evoluzione tecnologica e il suo impatto sulle conoscenze moderne, sottolineando l'importanza di sviluppare un paradigma personale per la percezione del processo tecnologico come base per la sopravvivenza e l'unità dell'uomo nel mondo del rapido cambiamento. Il primo capitolo descrive i metodi per misurare la resistenza specifica, tra cui la sonda a quattro punti, l'effetto Hall e i metodi van der Pau. L'autore spiega come selezionare il metodo appropriato in base alle proprietà del materiale e al livello di precisione desiderato. Il capitolo descrive anche la teoria alla base di ogni tecnica e fornisce esempi pratici su come effettuare le misurazioni.
Das Buch „Methoden der Halbleiterforschung“ (Name des Autors) ist ein umfassender itfaden zum Verständnis der grundlegenden Prinzipien von Halbleitermaterialien und deren Eigenschaften. Das Buch bietet einen detaillierten Überblick über die verschiedenen Methoden zur Bestimmung der wichtigsten Parameter, die die istung von Halbleiterbauelementen beeinflussen, wie Widerstand, Mobilität, Wärmeleitfähigkeit und Rekombinationsrate. Diese Parameter werden benötigt, um das Design und die Entwicklung von halbleiterbasierten Geräten, einschließlich Transistoren, Dioden und Solarzellen, zu optimieren. Das Buch beginnt mit einer Einführung in die Grundbegriffe der Halbleitertechnik und wie wichtig es ist, die zugrunde liegende Physik dieser Materialien zu verstehen. Der Autor betont die Notwendigkeit, den Prozess der technologischen Evolution und ihre Auswirkungen auf das moderne Wissen zu studieren und zu verstehen, und betont die Bedeutung der Entwicklung eines persönlichen Paradigmas der Wahrnehmung des technologischen Prozesses als Grundlage für das Überleben und die Einheit des Menschen in einer Welt des schnellen Wandels. Im ersten Kapitel werden die Methoden zur Messung des spezifischen Widerstands, einschließlich der Vier-Punkt-Sonde, des Hall-Effekts und der van der Pau-Methoden ausführlich beschrieben. Der Autor erklärt, wie man eine geeignete Methode basierend auf den Materialeigenschaften und der gewünschten Genauigkeit auswählt. Das Kapitel befasst sich auch mit der Theorie hinter jeder Technik und bietet praktische Beispiele für die Durchführung von Messungen.
Metody badań półprzewodnikowych (nazwa autora) jest kompleksowym przewodnikiem do zrozumienia podstawowych zasad materiałów półprzewodnikowych i ich właściwości. Książka zawiera szczegółowy przegląd różnych metod stosowanych do określania kluczowych parametrów wpływających na wydajność urządzeń półprzewodnikowych, takich jak rezystywność, mobilność, przewodność cieplna i szybkość rekombinacji. Parametry te są potrzebne do optymalizacji projektowania i rozwoju urządzeń półprzewodnikowych, w tym tranzystorów, diod i ogniw słonecznych. Książka rozpoczyna się od wprowadzenia do podstawowych koncepcji inżynierii półprzewodników i znaczenia rozumienia podstawowej fizyki tych materiałów. Autor podkreśla potrzebę badania i zrozumienia procesu ewolucji technologicznej i jej wpływu na nowoczesną wiedzę, podkreślając znaczenie rozwoju osobistego paradygmatu postrzegania procesu technologicznego jako podstawy ludzkiego przetrwania i jedności w świecie szybkich zmian. Pierwszy rozdział dotyczy szczegółowo metod pomiaru rezystancji, w tym sondy czteropunktowej, efektu Halla i metod van der Pauw. Autor wyjaśnia, jak wybrać odpowiednią metodę na podstawie właściwości materiału i pożądanego poziomu dokładności. W rozdziale omówiono również teorię każdej techniki i przedstawiono praktyczne przykłady sposobu dokonywania pomiarów.
Mediconductor Research Methods (שם המחבר) הוא מדריך מקיף להבנת עקרונות היסוד של חומרים מוליכים למחצה ותכונותיהם. הספר מספק סקירה מפורטת של השיטות השונות המשמשות לקביעת פרמטרים מרכזיים המשפיעים על ביצועיהם של התקני מוליכים למחצה, כגון הפוגה, ניידות, מוליכות תרמית ושיעור רקומבינציה. הפרמטרים האלה נחוצים כדי לייעל את התכנון והפיתוח של התקנים מבוססי מוליכים למחצה, כולל טרנזיסטורים, דיודות ותאים סולאריים. הספר מתחיל עם הקדמה למושגים הבסיסיים של הנדסת מוליכים למחצה והחשיבות של הבנת הפיזיקה הבסיסית של חומרים אלה. המחבר מדגיש את הצורך לחקור ולהבין את תהליך האבולוציה הטכנולוגית ואת השפעתה על הידע המודרני, ומדגיש את החשיבות של פיתוח פרדיגמה אישית לתפיסה של תהליך טכנולוגי כבסיס להישרדות ולאחדות של האדם בעולם של שינוי מהיר. הפרק הראשון עוסק בפירוט שיטות מדידה מחדש, כולל הגשושית בעלת ארבע הנקודות, אפקט הול ושיטות ואן דר פאו. המחבר מסביר כיצד לבחור את השיטה המתאימה המבוססת על התכונות החומריות ורמת הדיוק הרצויה. הפרק גם בוחן את התיאוריה שמאחורי כל טכניקה ומספק דוגמאות מעשיות כיצד לבצע מדידות.''
Yarı İletken Araştırma Yöntemleri (yazarın adı), yarı iletken malzemelerin temel ilkelerini ve özelliklerini anlamak için kapsamlı bir kılavuzdur. Kitap, direnç, hareketlilik, termal iletkenlik ve rekombinasyon hızı gibi yarı iletken cihazların performansını etkileyen temel parametreleri belirlemek için kullanılan çeşitli yöntemlere ayrıntılı bir genel bakış sunmaktadır. Bu parametreler, transistörler, diyotlar ve güneş pilleri dahil olmak üzere yarı iletken tabanlı cihazların tasarımını ve geliştirilmesini optimize etmek için gereklidir. Kitap, yarı iletken mühendisliğinin temel kavramlarına ve bu malzemelerin altında yatan fiziği anlamanın önemine bir giriş ile başlar. Yazar, teknolojik evrim sürecini ve modern bilgi üzerindeki etkisini inceleme ve anlama ihtiyacını vurgulayarak, teknolojik bir sürecin hızlı bir değişim dünyasında insanın hayatta kalması ve birliği için temel olarak algılanması için kişisel bir paradigma geliştirmenin önemini vurgulamaktadır. İlk bölüm, dört noktalı prob, Hall etkisi ve van der Pauw yöntemleri de dahil olmak üzere özdirenç ölçüm yöntemleri ile ayrıntılı olarak ilgilenmektedir. Yazar, malzeme özelliklerine ve istenen doğruluk seviyesine göre uygun yöntemin nasıl seçileceğini açıklar. Bölüm ayrıca her tekniğin arkasındaki teoriye bakar ve ölçümlerin nasıl yapılacağına dair pratik örnekler sunar.
طرق أبحاث أشباه الموصلات (اسم المؤلف) هو دليل شامل لفهم المبادئ الأساسية لمواد أشباه الموصلات وخصائصها. يقدم الكتاب لمحة عامة مفصلة عن الطرق المختلفة المستخدمة لتحديد المعلمات الرئيسية التي تؤثر على أداء أجهزة أشباه الموصلات، مثل المقاومة والتنقل والتوصيل الحراري ومعدل إعادة التركيب. هذه المعلمات ضرورية لتحسين تصميم وتطوير الأجهزة القائمة على أشباه الموصلات، بما في ذلك الترانزستورات والثنائيات والخلايا الشمسية. يبدأ الكتاب بمقدمة للمفاهيم الأساسية لهندسة أشباه الموصلات وأهمية فهم الفيزياء الأساسية لهذه المواد. ويشدد المؤلف على ضرورة دراسة وفهم عملية التطور التكنولوجي وأثرها على المعرفة الحديثة، مشددا على أهمية وضع نموذج شخصي لتصور العملية التكنولوجية كأساس لبقاء الإنسان ووحدته في عالم يشهد تغيرا سريعا. يتناول الفصل الأول بالتفصيل طرق قياس المقاومة، بما في ذلك المسبار المكون من أربع نقاط، وتأثير هول، وطرق فان دير باو. يشرح المؤلف كيفية اختيار الطريقة المناسبة بناءً على الخصائص المادية والمستوى المطلوب من الدقة. يبحث الفصل أيضًا في النظرية الكامنة وراء كل تقنية ويقدم أمثلة عملية لكيفية أخذ القياسات.
반도체 연구 방법 (저자 이름) 은 반도체 재료의 기본 원리와 그 특성을 이해하기위한 포괄적 인 지침입니다. 이 책은 저항, 이동성, 열전도도 및 재조합 속도와 같은 반도체 장치의 성능에 영향을 미치는 주요 매개 변수를 결정하는 데 사용되는 다양한 방법에 대한 자세한 개요를 제공합니다. 이러한 매개 변수는 트랜지스터, 다이오드 및 태양 전지를 포함한 반도체 기반 장치의 설계 및 개발을 최적화하는 데 필요합니다. 이 책은 반도체 공학의 기본 개념과 이러한 재료의 기본 물리학을 이해하는 것의 중요성에 대한 소개로 시작됩니다. 저자는 기술 진화 과정과 현대 지식에 미치는 영향을 연구하고 이해해야 할 필요성을 강조하며, 빠른 변화의 세계에서 인간 생존과 통일의 기초로서 기술 과정의 인식을위한 개인 패러다임 개발의 중요성을 강조합니다. 첫 번째 장은 4 점 프로브, 홀 효과 및 반 데르 파우 방법을 포함한 저항 측정 방법을 자세히 다룹니다. 저자는 재료 특성과 원하는 정확도 수준에 따라 적절한 방법을 선택하는 방법을 설명합니다. 이 장은 또한 각 기술의 이론을 살펴보고 측정 방법에 대한 실질적인 예를 제공합니다.
Semiconductor Research Methods(著者名)は、半導体材料の基本原理とその特性を理解するための包括的なガイドです。この本では、抵抗、移動性、熱伝導率、組換え率など、半導体デバイスの性能に影響を与える主要なパラメータを決定するために使用されるさまざまな方法の詳細な概要を説明します。これらのパラメータは、トランジスタ、ダイオード、太陽電池を含む半導体ベースのデバイスの設計と開発を最適化するために必要です。この本は、半導体工学の基本的な概念と、これらの材料の基礎となる物理学を理解することの重要性についての紹介から始まります。著者は、技術進化の過程と現代の知識への影響を研究し理解する必要性を強調し、急速な変化の世界における人間の生存と団結の基礎としての技術プロセスの認識のための個人的なパラダイムを開発することの重要性を強調しています。最初の章では、4点プローブ、ホール効果、ファン・デル・ポー法などの抵抗測定方法について詳しく説明します。著者は、材料特性と所望の精度に基づいて適切な方法を選択する方法を説明します。この章では、各テクニックの背後にある理論を検討し、測定方法の実例を提供します。
《半導體研究方法》(作者的名字)是了解半導體材料基本原理及其特性的全面指南。本書詳細介紹了用於確定影響半導體器件性能的關鍵參數的各種方法,例如電阻率,遷移率,熱導率和重組速度。這些參數對於優化半導體基設備(包括晶體管,二極管和太陽能電池)的設計和開發至關重要。本書首先介紹了半導體技術的基本概念,以及了解這些材料的基本物理學的重要性。作者強調有必要探索和理解技術進化過程及其對現代知識的影響,強調在快速變化的世界中發展個人感知過程模型作為人類生存和團結的基礎的重要性。第一章詳細介紹了電阻率測量方法,包括四點探針,霍爾效應和範德波方法。作者解釋了如何根據材料的性質和所需的精度水平選擇合適的方法。本章還研究了每種技術背後的理論,並提供了如何進行測量的實際示例。
